手持式结构光三维扫描仪是一款基于实时三维重建应用场景设计的高集成度易操作的手持式三维扫描系统。在硬件设计上采用 TI-DLP芯片和图像传感器芯片进行集成电路设计，大大提高通讯效率和稳定性，实现0.03秒高速扫描；在软件上采用交互对话框模式高耦合设计，进一步简化用户操作流程减少人机交互，一键自动完成点云的全局注册，去噪融和，无损网格化，自动生成STL标准三维格式，可导入逆向设计软件，数控机加工系统和3D打印机等应用。
乐彩汇在扫描过程中系统会智能根据扫描对象进行模式判断自动选择合适的配置参数，客户无须进行繁琐专业的参数配置，从而使得操作过程更加自然流畅。另外系统同时支持普通和精细两种扫描模式，支持特征和标志点两种拼接方式，可扩展支持摄影测量系统框架点模式，从而适应大范围扫描场景应用。由于其采用高速结构光光栅三维重建技术，使它既有手持的便捷性又能保持结构光的亚像素高精度特性，并且同时支持大小两个范围既能扫精细的动漫手办件又能扫汽车，其高速高细节高适应性让其成为三维扫描仪领域一种新的产品形式，广泛服务于各行业三维重建应用场景中。
SCAN-S特点：
1、暗色、黑色物体可以直接扫描，摆脱对反差增强剂的依赖；
2、两种扫描模式，可贴点扫描，也可不贴点扫描，节省大量时间。
3、精度高，速度快。
行业应用
汽车整车及配件；航空航天船舶；轨道交通；机械设计及制造；家居家装；建筑文物；教育科研；虚拟现实展示；工艺品佛像雕刻行业；3D打印配套。
| 型号 | iGF-3D | |
| 标准模式 | 精细模式 | |
| 范围 | 300mm | 150mm |
| 点距 | 0.25mm | 0.12mm |
| 精度 | 0.1mm | 0.03mm |
| 适应范围 | 300-4000mm | 20-300mm |
| 镜头 | 8mm标准光学测量镜头 | |
| 重量/尺寸 | 0.8KG/240*165*55mm | |
| 工作距离 | 500mm/500mm±30% | |
| 传感器/光栅 | ONSEMI1310000pixel 600fps/TI 1280*800Led白光 | |
| 通信接口/电源 | USB3.0/12V 5A/100-240V 60HZ/1.5A | |
| 扫描方式/速度 | 非接触式结构光面扫描/0.01s | |
| 拼接方式/辅助定位 | 标志点拼接、特征拼接/双激光点定位 | |
| 支持 | 全局注册/温度补偿/可接供第三方API开发接口，扩展支持光学跟踪摄影测量机械臂等 | |
| 电脑要求 | Win10 + 64bit/CPU I7 ，内存16，Nvidia显卡 4G 固太硬盘SSD |
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| 认证 | CE FCC WEEE CNAS 国家实验室第三方认证 | |
| 彩色模块 | 含彩色拼接和彩色影显（可选择） | |
| 定位系统模块 | 支持大范围扫描不变形（可选择） | |
硬件配置
三维扫描仪
USB 3.0线缆
电源适配器
乐彩汇20mm标准自反射光学标定板
自反射光学标志点
计算机要求：
处理器：i7 64bit 2Ghz+； 内存：16G或16G以上
传输：3.0传输总线；存储：高速SSD固态硬盘（推荐）
显卡：NVIDIA显卡4G显存； 系统：推荐Windows10 64bit SP1+
采用ONSAMI安森美Global Shut式全局曝光传感器内置32M高速数据缓存；
乐彩汇基于TI-DLP@1280*800高速光栅发生器设计；
乐彩汇集成基于GPU-CUDA加速的特征匹配不贴点点云拼接模块，实现实时融合自由扫描；
乐彩汇采用8mm标准光学测量镜头模组；
800FPS高帧率数据采集0.01s高速三维重建；
集成高速全局自反射标志点识别模块；
集成全局标志点融合算法模块，支持大范围连续扫描不分层；
集成全局点云迭代融合模块，实现高效去噪光顺融合；
可扩展支持摄影测量框架点模式扫描超大工件不分层；
支持无损三角网格化一键生成标准STL三维格式；
支持双激光点辅助定位；
集成LED主动光源智能补光；
乐彩汇基于高速结构光技术既有手持的便捷性又能保持结构光的亚像素高精度特性；
乐彩汇支持分布式应用，可以实现多台扫描仪位置标定同步扫描；
提供第三方系统集成API开发接口，支持相关模块深度定制；
乐彩汇同时支持两个扫描范围一键切换无须二次光学标定；软件永久免费升级。
便携高效，工作时操作人员手持设备，可以随时变化角度和距离对被测物体进行快速扫描；
乐彩汇目标点自动定位，不需要额外机械臂或其他跟踪设备，被扫描物体可以移动，无需固定
乐彩汇扫描数据实时呈现，真正实现“所见即所得”；
可内、外扫描，也可在狭窄的空间扫描，如飞机驾驶舱，汽车内部仪表板等无局限；能扫描各种大小和形状的物体，都可轻松应对、
彩色模块可扫描彩色物体，并利用彩色纹理达到自动拼接功能，此功能可选择
乐彩汇全局测量系统主要用于大型物体的形体纠正和数据准确性，此功能可选择。
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